Flash高低溫試驗箱

Flash高低溫試驗箱可用于研究Flash存儲器在不同溫度下的性能變化的機理和溫變規律，評估其空間應用的可行性，為Flash器件在空間型號任務的應用提供試驗依據和改進建議。過溫度循環測試，可以檢測到由于溫度變化引起的結構應力、熱膨脹差異、焊點疲勞等問題。這些問題可能導致接觸不良、焊接斷裂、金屬疲勞等故障。

技術參數：

產品性能：

1.支持SATAI/II/III的測試;

2.支持SATA的測試片數定制化，例如100片、150片、200片、400片等等;

3.支持研發微小型定制化，例如2片、6片等等;

4.支持(-70度~+180度)的測試;

5.支持異常斷電測試和老化測試;

6.支持自動化溫控測試;

7.支持全部采用軟體進行智能化控制測試;

8.支持測試測試軟體的定制化;

9.支持箱內風速與溫度均衡;

10.支持快速升降溫控制;

11.支持PCIE/EMMC/UFS/DRAM/Flash老化的定制化研發;

12.支持網絡化控制，可以異地控制測試并看測試結果;

13.支持APP遠程控制測試。

結構特征：

整機測試系統主要包括高低溫箱、PC主板、PM板和測試軟體等，硬件部分主要由高低溫箱外殼、壓縮機、PC主板、PM板、電源控制部件等組成。

1.控制電路板：每片PC主板上使用的是1托(6/22)形式，測試程序由公司自主研發及維護;

2.測試項：測試項主要包括多種掉電測試、大量讀寫比對測試、協議測試等等;

3.控制平臺：通過Console采用腳本形式控制整個測試;

4.QMS服務器：所有測試結果，實時傳送回QMS，長久保存;

5.網絡接口：可以通過網絡異地控制，并且客戶實時獲得購買產品的生產測試狀況;

如有Flash高低溫試驗箱選型疑問，可以咨詢環儀儀器相關技術人員。